技術特征：
1.一種綜合孔徑微波輻射計聯合校正方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟：(1)基于冗余空間構造定標方程：選擇最短基線作為冗余基線，構造所有相關的定標方程；(2)基于內部相干噪聲注入構造定標方程：選定少許接收機單元作為內部相干噪聲注入單元，通過噪聲注入校正方法獲得其幅度和相位誤差，并構造與這些噪聲注入單元相關的定標方程；(3)聯立(1)和(2)的所有定標方程，構造一個基于冗余空間和內部相干噪聲注入的聯合定標方程組；(4)求解(3)構造的聯合定標方法組，獲得所有接收機的幅度和相位誤差、以及天線臂的異面偏移角；(5)根據步驟(4)獲得的幅度和相位誤差、以及天線臂的異面偏移角，校正測量的可見度函數，采用亮溫反演方法獲得校正的亮溫圖像。2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步驟(1)中，冗余基線是指不同天線對具有相同的基線，基線是指兩個天線坐標位置的差值(u,v)(以波長為單位)，其計算公式為u＝(xi-xj)\/λ和v＝(yi-yj)\/λ；其中，(xi,yi)表示天線單元i的坐標，λ表示工作波長；最短冗余基線是指距離最短的天線對組成的基線。3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述步驟(1)中，基于最短基線組成的定標方程組是欠定的，即方程組的未知量的個數多于獨立方程的個數。4.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述步驟(2)中，內部相干噪聲注入是指通過功分網絡，將噪聲源的噪聲信號等幅度相位地輸入到每個接收機通道，從而實現對接收機通道的誤差校正；通過噪聲注入獲得接收機通道幅度和相位誤差。5.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述步驟(2)中，注入相干噪聲單元的個數由步驟(1)基于最短基線構造的方程組的未知量個數與其獨立定標方程個數的差值M決定，噪聲注入單元個數最少為M個，以保證步驟(3)組成的聯合定標方程組是正定或超定的。6.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述步驟(3)中，聯合定標方程組必須是一個良態方程組，至少是一個正定方程組。7.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述步驟(4)中，當聯合定標方程組是超定方程時，選擇最小二乘法求解聯合定標方程組。8.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，在所述步驟(5)中，所述的亮溫反演方法是采用傅里葉變換。