本發(fā)明涉及dimm模塊，尤其涉及dimm模塊測試電路、設(shè)備及方法。
背景技術(shù)：
1、目前，行業(yè)普遍將dram顆粒視為理想的一致性元件，dram在出廠前，某些dram顆粒在標(biāo)稱電壓下工作正常，但是實(shí)際情況是存在各種各樣的噪聲，這使得dram的工作電壓并不是標(biāo)準(zhǔn)電壓，而是在標(biāo)準(zhǔn)電壓上下波動(dòng)。如果一些細(xì)微的電壓波動(dòng)，dram顆粒就無法正常工作，顯然這不是使用者所期望的。
2、現(xiàn)有技術(shù)中，cn120148599a測試對(duì)象是sram，閾值電壓測試電路產(chǎn)生的電壓是線性變化的，該方案無法測試?dimm或者dram。因此需要開發(fā)dimm模塊測試電路，使噪聲電壓生成電路產(chǎn)生的噪聲電壓周期頻率可控，振幅可控，時(shí)序可控，并且通過噪聲控制模塊，全程可通過指令控制。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本發(fā)明的主要目的在于提供一種dimm模塊測試電路、設(shè)備及方法，旨在模擬現(xiàn)實(shí)中的復(fù)雜多變的場景下pmic輸入電壓和輸出電壓變化情況，使得測試結(jié)果更加接近真實(shí)使用情況。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出一種dimm模塊測試電路，所述dimm模塊包括待測pmic和待測內(nèi)存顆粒，所述dimm模塊測試電路包括：
3、pmic標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓接入端，用于接入pmic標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓；
4、噪聲電壓生成模塊，具有第一噪聲電壓輸出端和第二噪聲電壓輸出端，所述噪聲電壓生成模塊用于生成pmic輸入噪聲電壓及pmic輸出噪聲電壓；
5、第一噪聲電壓輸出模塊，其第一輸入端與所述pmic標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓接入端，所述第一噪聲電壓輸出模塊的第二輸入端與所述第一噪聲電壓輸出端連接；所述第一噪聲電壓輸出模塊的輸出端用于接入所述待測pmic；所述第一噪聲電壓輸出模塊用于根據(jù)所述pmic輸入噪聲電壓，對(duì)所述pmic標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓接入端接入的pmic標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓進(jìn)行干擾后，產(chǎn)生輸入擾動(dòng)電壓并輸出至待測pmic；
6、第二噪聲電壓輸出模塊，其第一輸入端用于與所述待測pmic的輸出端連接，所述第二噪聲電壓輸出模塊的第二輸入端與所述第二噪聲電壓輸出端連接；所述第二噪聲電壓輸出模塊的輸出端用于接入所述待測內(nèi)存顆粒；所述第二噪聲電壓輸出模塊用于根據(jù)所述pmic輸出噪聲電壓，對(duì)所述待測pmic輸出的dram供電電壓進(jìn)行干擾后，產(chǎn)生輸出擾動(dòng)電壓至待測dram。
7、在一實(shí)施例中，所述噪聲電壓生成模塊輸出的所述pmic輸入噪聲電壓大小及pmic輸出噪聲電壓大小可調(diào)；和/或所述噪聲電壓生成模塊輸出所述pmic輸入噪聲電壓和pmic輸出噪聲電壓的頻率與振幅可調(diào)。
8、在一實(shí)施例中，所述dimm模塊測試電路還包括噪聲產(chǎn)生控制模塊，所述噪聲產(chǎn)生控制模塊與所述噪聲電壓生成模塊連接；
9、所述噪聲產(chǎn)生控制模塊用于根據(jù)接收到的測試指令，控制所述噪聲電壓生成模塊以預(yù)定時(shí)序產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的pmic輸入噪聲電壓及pmic輸出噪聲電壓。
10、在一實(shí)施例中，所述預(yù)定時(shí)序至少包括：
11、單獨(dú)產(chǎn)生周期變化的pmic輸入噪聲電壓；
12、單獨(dú)產(chǎn)生周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
13、同步產(chǎn)生周期變化的pmic輸入噪聲電壓和周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
14、分時(shí)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓和非周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
15、單獨(dú)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓；
16、單獨(dú)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
17、同步產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓和非周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
18、分時(shí)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓和非周期變化的pmic輸出噪聲電壓。
19、在一實(shí)施例中，所述pmic輸入噪聲電壓以所述pmic標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓為中心上下波動(dòng)；所述pmic輸出噪聲電壓以所述pmic輸出的dram供電電壓為中心上下波動(dòng)。
20、在一實(shí)施例中，所述第一噪聲電壓輸出模塊包括第一求和運(yùn)算放大器，所述第一求和運(yùn)算放大器的第一輸入端與所述pmic標(biāo)準(zhǔn)輸入電壓接入端連接，所述第一求和運(yùn)算放大器的第二輸入端與所述噪聲電壓生成模塊的第一噪聲電壓輸出端連接，所述第一求和運(yùn)算放大器的輸出端用于接入所述待測pmic。
21、在一實(shí)施例中，所述第二噪聲電壓輸出模塊包括第二求和運(yùn)算放大器，所述第二求和運(yùn)算放大器的用于與所述待測pmic的輸出端連接，所述第二求和運(yùn)算放大器的第二輸入端與所述噪聲電壓生成模塊的第二噪聲電壓輸出端連接，所述第二求和運(yùn)算放大器的輸出端用于接入所述待測dram。
22、在一實(shí)施例中，所述第二噪聲電壓輸出模塊的數(shù)量為多個(gè)，每一所述第二噪聲電壓輸出模塊的第一輸入端與所述待測pmic的輸出端連接，每一所述第二噪聲電壓輸出模塊的第二輸入端與一所述第二噪聲電壓輸出端連接，每一所述第二噪聲電壓輸出模塊的輸出端用于接入一所述待測dram。
23、本發(fā)明還提出一種dimm模塊測試設(shè)備，包括測試機(jī)臺(tái)及如上所述的dimm模塊測試電路；
24、所述測試機(jī)臺(tái)的測試端用于與待測內(nèi)存顆粒連接，所述測試機(jī)臺(tái)用于獲取所述待測內(nèi)存顆粒的動(dòng)態(tài)波動(dòng)電壓，并根據(jù)所述動(dòng)態(tài)波動(dòng)電壓確定所述待測內(nèi)存顆粒的工作電壓區(qū)間。
25、本發(fā)明還提出一種dimm模塊測試方法，所述dimm模塊測試方法使用了如上所述的dimm模塊測試電路；dimm模塊測試包括噪聲電壓生成模塊、第一噪聲電壓輸出模塊、第二噪聲電壓輸出模塊；所述dimm模塊測試方法包括：
26、獲取測試指令，根據(jù)獲取的測試指令控制所述噪聲電壓生成模塊以預(yù)定時(shí)序產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的pmic輸入噪聲電壓及pmic輸出噪聲電壓；所述預(yù)定時(shí)序至少包括：
27、單獨(dú)產(chǎn)生周期變化的pmic輸入噪聲電壓；
28、單獨(dú)產(chǎn)生周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
29、同步產(chǎn)生周期變化的pmic輸入噪聲電壓和周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
30、分時(shí)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓和非周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
31、單獨(dú)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓；
32、單獨(dú)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
33、同步產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓和非周期變化的pmic輸出噪聲電壓；
34、分時(shí)產(chǎn)生非周期變化的pmic輸入噪聲電壓和非周期變化的pmic輸出噪聲電壓。
35、本發(fā)明還提出一種制造設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上所述的dimm模塊測試電路。
36、本發(fā)明可以模擬各種外界噪聲干擾，通過噪聲電壓生成模塊10來動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)給dram直接供電的pmic芯片的輸入輸出電壓，即動(dòng)態(tài)調(diào)整輸入到pmic的電壓，以及輸出到dram的電壓，測試dram和pmic在不同工作電壓下的工作狀態(tài)。不僅測試出dram在不同波動(dòng)電壓下的工作狀態(tài)，還能檢測出pmic芯片的性能。相比于靜態(tài)調(diào)整pmic輸出電壓，pmic外部模擬噪聲，使dram實(shí)際輸入電壓不斷波動(dòng)，讓測試范圍更廣，一次測試相當(dāng)于之前多次靜態(tài)調(diào)整pmic電壓，使測試效率更高。