本發明系有關于一種測量裝置及使用測量裝置的工具機誤差校正方法。
背景技術：
1、現行技術為了校正五軸工具機的旋轉件誤差，多會先使用r-test系統的接觸式感測頭，或lrt(laser?r-test)系統的非接觸式感測頭，例如中國發明專利cn102371506a號之感測頭10，來搭配校正球以測量出基準點長度。接著再根據基準點長度進行各軸誤差分析，以計算出旋轉軸的軸心位置，進而進行旋轉軸誤差之補償。
2、然而，在傳統測量基準點長度的過程中，會需要通過人工判斷的方式以千分表來觸碰校正球，這使得基準點長度的測量容易產生誤差，并讓基準點長度的測量有操作復雜以及無法自動化的缺點。
技術實現思路
1、本發明在于提供一種測量裝置及使用測量裝置的工具機誤差校正方法，以降低測量基準點長度的誤差，并將基準點長度的測量流程簡化及自動化。
2、本發明一實施例所公開之測量裝置包含一殼體、一活動件、一校正球以及一感測開關?；顒蛹苫顒拥卦O置于殼體。校正球設置于活動件的一端并凸出于殼體之外。感測開關設置于殼體中并用以感測活動件相對殼體的活動。
3、本發明另一實施例所公開之工具機誤差校正方法，使用測量裝置并搭配一lrt感測頭、一計算單元及一控制器對一工具機進行誤差校正，誤差校正方法為一系列程序并經計算單元讀取后執行以下步驟：通過該控制器令工具機的一主軸推抵設置于測量裝置的活動件的校正球，而取得主軸的一第一z軸坐標值及根據測量裝置中用以測量活動件的活動之感測開關取得測量裝置的一第一高度值；通過該控制器控制該工具機的一旋轉刀盤將lrt感測頭安裝至主軸，并移動主軸而使得測量裝置的校正球位于lrt感測頭之中心位置以使得lrt感測頭感測到的校正球的一偏移誤差為0，進而取得主軸的一第二z軸坐標值及測量裝置的一第二高度值；以及通過該計算單元根據第一z軸坐標值、第一高度值、第二z軸坐標值及第二高度值計算出一基準點長度。
4、本發明又另一實施例所公開之工具機誤差校正方法，使用測量裝置并搭配一lrt感測頭、一計算單元及一控制器對一工具機進行誤差校正，誤差校正方法為一系列程序并經計算單元讀取后執行以下步驟：：使用測量裝置及計算單元根據一基準點長度進行誤差分析而得到工具機之一誤差值；以及通過計算單元根據工具機之誤差值對工具機的一第一旋轉件及一第二旋轉件進行校正。
5、根據上述實施例所公開之測量裝置及使用測量裝置的工具機誤差校正方法，校正球設置于活動件的一端并凸出于殼體之外，且感測開關用以感測活動件相對殼體的活動。因此，得以通過測量裝置及lrt感測頭來測量工具機的主軸之基準點長度，而無需通過人工的方式操作千分表。如此一來，不僅能降低測量基準點長度的誤差，還能將基準點長度的測量流程簡化及自動化。進一步來說，后續根據基準點長度對工具機進行的誤差校正也會更加精準，且誤差校正的流程也能被簡化及自動化。
1.一種測量裝置，包含：
2.如權利要求1所述之測量裝置，其中所述活動件以滑動方式設置于所述殼體上。
3.如權利要求1所述之測量裝置，更包含至少一磁鐵，所述至少一磁鐵設置于所述內部空間并用以吸附所述活動件。
4.如權利要求1所述之測量裝置，其中所述感測開關為接觸式開關。
5.如權利要求1所述之測量裝置，其中所述活動件樞接于所述殼體上。
6.如權利要求1所述之測量裝置，更包含一信號輸出端口，所述信號輸出端口設置于殼體上并電性連接所述感測開關。
7.如權利要求6所述之測量裝置，更包含一發光組件，所述發光組件設置于所述殼體外，所述發光組件電性連接所述信號輸出部。
8.一種工具機誤差校正方法，使用如權利要求1所述之測量裝置并搭配一lrt感測頭、一計算單元及一控制器對一工具機進行誤差校正，所述誤差校正方法為一系列程序并經所述計算單元讀取后執行以下步驟：
9.如權利要求8所述之工具機誤差校正方法，其中通過所述控制器令所述主軸推抵所述校正球，而根據所述感測開關取得所述第一z軸坐標值及所述第一高度值的步驟包含：
10.如權利要求8所述之工具機誤差校正方法，其中通過所述控制器控制所述工具機的所述旋轉刀盤將所述lrt感測頭安裝至所述主軸，并移動所述主軸而使得所述校正球位于所述lrt感測頭之中心位置以使得所述lrt感測頭感測到的所述校正球的所述偏移誤差為0，進而取得所述第二z軸坐標值及所述第二高度值的步驟包含:
11.一種工具機誤差校正方法，使用如權利要求1所述之測量裝置并搭配一lrt感測頭、一計算單元及一控制器對一工具機進行誤差校正，所述誤差校正方法為一系列程序并經所述計算單元讀取后執行以下步驟：
12.如權利要求11所述之工具機誤差校正方法，其中使用所述測量裝置及所述計算單元根據所述基準點長度進行誤差分析而得到所述工具機之所述誤差值的步驟包含:
13.如權利要求11所述之工具機誤差校正方法，其中通過所述計算單元根據所述工具機之所述誤差值對所述工具機的所述第一旋轉件及所述第二旋轉件進行校正的步驟包含: